本文標題："均質晶體的鑒定雙折射礦物分析顯微鏡"
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均質晶體的鑒定雙折射礦物分析顯微鏡
透明晶體光學性質的系統測定
這里主要介紹如何對偏光顯微鏡下顯示的光學性質進行簡捷的測
定，最后確定透明晶體的名稱。首先區分研究對象是均質體還是非均
質體，再各自按一定程序測定光學性質，最后從有關鑒定圖表中確定
晶體的名稱。
1．均質體和非均質體的區分
均質體薄片在單偏光下透明或半透明，可以有顏色，但無多色性
及吸收性；正交偏光下呈全消光，在聚斂偏光下仍為全消光而無干涉
圖。
非均質體薄片，除垂直光軸切片在單偏光及正交偏光下具有與均
質體相同的特性外，其他方向切片，在單偏光下有色晶體則具有多色
性及吸收性，有時還呈現閃突起；正交偏光間呈現四次消光及干涉色
；所有方向切片在聚斂偏光下都具有干涉圖。
2．均質晶體的鑒定
因為均質晶體不發生雙折射，正交偏光下和聚斂偏光下均為全消
光，所以所有光學性質都是在單偏光條件下進行研究和測定的。
鑒定均質晶體的光學性質有：晶體及其集合體的形狀、解理的發
育程度及組數和解理角、透明度、顏色、突起等級、折射率范圍和絕
對折射率等。
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