本文標題："多晶試樣中，總是有某些表面晶粒計量分析顯微鏡"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2015-2-10 10:43:13

多晶試樣中，總是有某些表面晶粒計量分析顯微鏡

在多晶試樣中，總是有某些表面晶粒，共有效滑移面相對于

最大分循環剪應力的位向是有利的，單晶體與多晶體不同，其表

而條痕的外貌取決于最大分剪應力和有效滑移面的相對位向。曾

指出，當方截面單晶體承受循環扭轉載荷時，如果晶體的有效滑移

向量平行于一個面，由于剪應力在試樣每個而的中點達到最大，

而在角上減小到零，因此晶體上沒有由越出表面的剪應力分量產

生滑移運動的地位，故因滑移越出表面而造成的表面開裂所起的

影響最小

雖然許多延性純金屬和簡單合金在室溫下和接近長期疲勞強

度的應力級下作試驗時，會出現滑移帶開裂，但是金相檢驗表

明，其他金屬會出現晶界開裂，而實際上在較低應力級下出現滑

移帶開裂的那些金屬，在經過短耐久期后引起斷裂的應力級或應

變幅下就會出現晶界開裂。表面變形的劇烈變化造成晶界開裂，

估計可能是山于晶界不能適應鄰近晶粒中發生的大循環

變形，因而在晶界上產生了嚴重的應變梯度，這樣就產生了引起

表而裂隙的附加剪切作用

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