本文標題："礦物的微觀結(jié)構(gòu)特征-光學研究用實驗顯微鏡"
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礦物的微觀結(jié)構(gòu)特征-光學研究用實驗顯微鏡
當作完旋轉(zhuǎn)針的光學研究和X射線單晶研究以后，仍然粘在玻璃絲上的礦物顆粒還
可供掃描電鏡研究之用，如果需要成分資料，在作完掃描電鏡研究后，還可用克里斯塔邦
膠把仍粘在玻瑞絲上的礦物粘到一塊小的回玻片上，經(jīng)磨拋出合適的平面后，可作電子探
針成分分析。
如果要求了解礦物的微觀結(jié)構(gòu)特征，則在做完探針分析后，可對該礦物顆粒進行離子
減薄，然后在高電壓電子顯微鏡上作掃描透射電鏡研究。在對礦物樣晶進行離子減薄的
過程中需要熟練的技藝和特別細心，要隨時關(guān)注樣品在氬離子流中減薄的情況，并注意千
萬不要讓寶貴的顆粒樣晶丟失掉。
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