本文標題："分光器原理-測量光譜時,通常可以得到兩個數據"
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分光器原理-測量光譜時,通常可以得到兩個數據
我們把利用波長(或頻率)來進行區分包括紅外線在內的電磁波的裝
置叫做分光器(Spectrometer)。原理。分光器的主要組成部分如下
：
(1)光源(采用碳硅棒)；
(2)入口狹縫(為提高分辨率使光束變細)；
(3)平行光管(凹面鏡，使光束平行)；
(4)單色器(棱鏡，或衍射光柵，用波長分光)；
(5)會聚鏡(凹面鏡，使光束會聚在出口狹縫上)：
(6)出口狹縫；
(7)檢測器(使用光電池、光敏半導體、熱電偶和紅外線指示器
等)。
從狀態分析的觀點出發觀察物質時，紅外線分光光度分析法是研究
“分子狀態”的方法，而X射線衍射法和電子衍射法則是研究“晶
體狀態"的方法，俄歇電子能譜分析法和電子能譜分析法是研究“
電子狀態”的方法。所得到的分析結果也隨各種方法的不同而異。
在應用紅外線分光光度分析法時，很關鍵的一條是一定充分理解各
種分析方法，然后針對分析目的的不同，靈活地加以使用。
紅外線分光光度分析法，具有試樣用量少(通常為一毫克)和能
用于分析晶體性弱的物質。而且在測量光譜時，通常可以得到兩個
數據。一個是吸收何種波長的光、另一個是吸收強度。紅外線光譜
分析法，可以說是通過處理這兩個數據而獲得有關的信息的一種分
析方法。
此外，在使用以紅外線分光光度分析法為主的光子探針分析法
時。必須注意的是，這種方法不能任意選擇波長、不能聚焦，而且
線源強度也有限制。
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