本文標題："光學顯微鏡測定顆粒大小可直接觀察也可用投影"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2016-11-4 22:55:45

光學顯微鏡測定顆粒大小可直接觀察也可用投影

　　在研究光學顯微鏡測定顆粒大小的準確性時表明：在理想條件下觀

察大于約1μm的顆粒時偏大0．13μm，測量顆粒的范圍

　　可以直接觀察也可以用投影法觀察影象。鑒定顆粒都愿用雙目鏡，

做顆粒大小分析多用單目鏡，這是因為可以調節鏡筒長度以逐步放大。

多數有經驗的操作者愿用直接觀察。投影法不易使眼睛疲勞，常用于持

續時間很長的計數工作。既可以前投影也可用反投影。用前投影時因得

到的對比度差，而可在暗室中操作。反投影亮度較好，但影象的清晰度

不好，不過可以用一種裝置來校正，即用兩塊互相接觸的毛玻璃投影屏

，一塊相對于另一塊慢慢地移動。一些自動的和半自動的計數和測定顆

粒大小時裝置從負或正地從事工作。用照相法和光學顯微鏡結合的主要

缺點是：只有在好的焦距中的顆粒能被測量，所以容易造成嚴重偏差

。雖然照象法常棱采用而且能得到永久性的記錄，但操作時間長，抵消

了利用高速計數器的優點。當進行需要稱量的計數時尤為如此，因為從

統計學觀點來看要得到準確的結果應觀察許多視域。

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