本文標(biāo)題："輕微的應(yīng)變硬化熱加工樣品質(zhì)量檢測(cè)便攜顯微鏡"

輕微的應(yīng)變硬化熱加工樣品質(zhì)量檢測(cè)便攜顯微鏡

再結(jié)晶織構(gòu)的衰減

    變形織構(gòu)的衰減或通過再結(jié)晶退火防止特殊的再結(jié)晶織構(gòu)形
成的可能性還沒有充分研究，但在電工(發(fā)電機(jī))鋼的生產(chǎn)力
面．進(jìn)行了更詳細(xì)的研究。總的來說，形成各類織構(gòu)的有利條件
的早期討論使我們能推薦幾種衰減織構(gòu)的方法。
    (1)添加具有很大濃度的粗的第二相質(zhì)點(diǎn)(>0．1微米)．
同時(shí)利用快速加熱．在這種情況下，塑性加工形成特殊的多組分
織構(gòu)，快速加熱使晶核數(shù)目最大可能的增長(zhǎng)(計(jì)算第二相粒子m
近的那些晶粒)，所形成的核心位向混亂；
如果第二相質(zhì)點(diǎn)的熱脹系數(shù)明顯不同二j二基體，由于組織熱應(yīng)
    變硬化的結(jié)果，能夠另外形成位向混亂的晶核，在這種情況下，
    熱循環(huán)應(yīng)該是很有效的。
這種方法，對(duì)于在中間退火時(shí)形成且具有有利于多滑移的位
向的有害晶核是特別有效的，這時(shí)，甚至輕微的應(yīng)變硬化及隨后
的加熱就能引起再結(jié)晶，在再結(jié)晶過程中，晶核失去了在中間加
熱后所具有的位向。

后一篇文章：顯微區(qū)結(jié)構(gòu)的差別會(huì)不會(huì)引起再結(jié)晶核和形核率的變化 »
前一篇文章：« 再結(jié)晶各個(gè)階段顯微金相織構(gòu)的變化分析顯微鏡

tags:金相,金相分析,金相顯微鏡,上海精密儀器,

輕微的應(yīng)變硬化熱加工樣品質(zhì)量檢測(cè)便攜顯微鏡,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

本頁地址：/gxnews/3219.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/