本文標題："光學顯微鏡微觀偏析是掩膜測量中廣泛使用的工具"
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光學顯微鏡微觀偏析是掩膜測量中廣泛使用的工具
光顯微技術
光學顯微鏡是掩膜測量中最廣泛使用的工具。在掩膜制備
過程中，有好幾個步驟需要測量和檢驗。光學顯微鏡適合于生產性
操作，因為它們的體積較小，而且技術人員能很快掌握操作技
術，包括能很快掌握拍攝后立即沖洗的35mm寬的膠卷的使用技
術。
微觀偏析
到現在為止，我們僅討論了相對尺寸較大的體系在平面狀圃
液界面定向凝固時的溶質分配。由于這種定向體系簡
單，在作了一些近似處理后，推導出的方程也都是簡單的。但若
將以前所用的方法鹿甩于枝晶的凝固，情況就變得極其復雜。因
此，必須進行大量簡化才能處理這類問題。
生長中界面的形態穩定性是不能用經典熱力學的定義加以確
定的，當前對平衡熱力學的引伸還沒能提供一種完全可接受的替
代方法。為了對生長形態進行理論分析，有必要采用建立在試探
基礎上的穩定性判據。所作的最簡單的假設是：生長中所呈現的
形態是具有最大生長速率或最小過冷度的形態。另一種方法是采
用穩定性變量，建立擾動的數學函數來描述圍液界面，以確定界
面是否可能從一種形態轉變成另一種形態。如果擾動隨時間進程
而增強，就認為界面形態是不穩定的，反之則是穩定的
現在來討論等軸凝固的情況，它與柱狀凝固完全不同
在這種情況下，熱通量是從熔液而不是從固相傳到型
壁。因此，為了在固液界面前沿建立必要的溫度梯度，熔液必須
是過冷的。液相中的溫度梯度將為負值，而固相中的溫度梯度基
本上等于零。這樣，擾動在其尖端處將面臨更大的溫度梯度，導
致熱通量增加，使尖端處生長速率增大。因此，在等軸凝固條件
下，純物質的界面總是不穩定的(忽略動力學過冷度)。直接的
結果是；純金屬等軸晶總是以樹枝狀形態生長。由于
不存在偏析，在固態純金屬鑄件中將不能發現枝晶的痕跡。幸
而，這種情況下的枝晶生長特征可以在純有機物或純水中非常清
楚地看到。
因此可以推斷，純金屬的固液界面當溫度梯度為正時總是穩
定的，而當溫度梯度為負時總是不穩定的。
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