本文標題："用實體顯微鏡測量統(tǒng)計-礦物分析顯微鏡"
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用實體顯微鏡測量統(tǒng)計-礦物分析顯微鏡
影響礦物單體解離度測定精度的因素
樣品代表性的影響
比重大小不一的選礦產(chǎn)品，堆放時會因重力分異作用而
使某些顆粒產(chǎn)生局部富集，造成抽樣誤差。因此，在取樣
縮分過程中，一定要充分拌勻，用縮分器劃四分法嚴格操
作，直至縮分取得具有代表性的樣品，并按規(guī)定脫磁、脫
泥后進行分析，才能保證測量統(tǒng)計結果的精度。
在磨制團塊光片時，礦樣與粘結劑要充分攪拌，粘結劑
的分量要恰當，千萬不能過多，否則礦物顆粒會比重不同
而造成分布不均勻，產(chǎn)生測量誤差。
截面的影響
邊生體顆粒是立體形態(tài)，而在光片上妯露的僅是其中一
截面，當制片中僅切到一種礦物時， 不可避免地會把一
部分邊生體顆粒誤認為是單體顆粒，但決不會把單體顆粒
誤認為連生體顆粒，因而造成截面單體顆粒比實際單體顆
粒偏高。根據(jù)這種統(tǒng)計數(shù)據(jù)計算的單體解離度也同樣偏高
，光片中邊生體顆粒愈多，這種誤差愈大。這種誤差要結
合連生類型加以修正。
但是，左路用實體顯微鏡測量統(tǒng)計時，由于觀察到的是
礦物顆粒的立體形態(tài)，所以此項誤差基本不存在，因此，
對400目以上的選礦產(chǎn)品，一般應在實體顯微鏡下觀測；
對負0.037-0.018mm粒級的產(chǎn)品，才需要磨制成光片在礦
相顯微鏡下觀測。
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