本文標題："SEM顯微鏡試驗或電拋光需要導電鑲嵌-金相常識"
發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
人瀏覽過-----時間：2014-12-4 5:36:34
而微探針，SEM顯微鏡試驗或電拋光則要求導電鑲嵌。如果非導電塑
料鑲嵌，充電度或附加X 射線信號的發射同鑲嵌材料均有極大關系，
所有以上諸因素，在選擇鑲嵌材料時應優先考慮，這一階段上一個
小小的安排，便可避免后來的失敗。
另一種可選用的方法是在大氣壓下往橫具中加環氧樹脂，并將
鑲樣放在真空干燥器中除盡所有空氣泡。過程約需10min 或更長一
點，當空氣被允許進入容器時，環氧樹脂便壓入空隙中。
有些用戶則寧愿采用真空和空氣的循環交替，其它有用方法是
放入橫具前，先把環氧樹脂在真空下脫氣幾分鐘，然后再對填充好
的模具脫氣，可是，這些工藝都不如介紹的第一種方法有效。
最好的方法是將環氧脫氣并倒入抽空的模具中，且這些操作均
在真空室內完成。
斜面鑲嵌金相工作者常將斜面剖切同光學顯微術配合，要獲取
更多的表面組織細節。Samueis 將此法引伸到研磨和拋光對表面變
形影響的研究通過給試樣表面磨出一個小角度或在鑲樣時稍微起一
頭，均可得出傾斜截面。所得放大倍率等于傾角a 的余割。
后一篇文章：精密光學機械顯微光密度計的應用-光學儀器型號 »
前一篇文章：« 金屬鑲嵌材料質量分析圖像視頻顯微鏡
tags:顯微鏡廠家,材料學,金相顯微鏡,上海精密儀器,
SEM顯微鏡試驗或電拋光需要導電鑲嵌-金相常識,金相顯微鏡現貨供應
本頁地址：/gxnews/2062.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/