本文標題："電子顯微鏡另一個重要特點上放大倍率變化范圍較寬"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2014-10-14 22:2:33
電子顯微鏡另一個重要特點上放大倍率變化范圍較寬
掃描電子顯微鏡另一個重要特點上放大倍率變化范圍較寬，因
而有可能宏觀斷口分析和顯微鏡斷口分析結(jié)合起來。點在研究服役
過程中的斷裂事故時特別有用。
盡管透射電子顯微鏡的放大位數(shù)高些，但掃描電子顯微鏡能用
來研究粗糙的斷口，這是透射電子顯微鏡做不到和，
掃描電子顯微鏡還適于觀察非常小的斷口（如線材的斷口），
而在確定主斷裂和次斷裂源以及匹配斷口的對應(yīng)區(qū)時，掃描電子顯
微鏡也能用來觀察大尺寸的斷口。
這里有必要對掃描電子顯微鏡試樣制備的一皯問題作簡要敘述
：試樣可能是在實驗室內(nèi)確定的條件下斷裂；也可能是在服役現(xiàn)場
斷裂的，這兩種情況下得到的斷口表面狀況是不一樣的。在前一種
情況里，
后一篇文章：觀察鋼制零件使用后形成的斷截面金相分析顯微鏡 »
前一篇文章：« 常用的測量用自準直儀型號和價格
tags:技術(shù),金相顯微鏡,上海精密儀器,
電子顯微鏡另一個重要特點上放大倍率變化范圍較寬,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁地址：/gxnews/1926.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/