本文標(biāo)題："顯微鏡觀察金屬絲網(wǎng)結(jié)構(gòu)特點(diǎn)-金相分析儀器"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過-----時(shí)間：2014-8-20 5:2:2
顯微鏡觀察金屬絲網(wǎng)結(jié)構(gòu)特點(diǎn)-金相分析儀器
掃描電子顯微鏡的示意圖.掃描電子顯微鏡中透鏡
系列的作用不是象透射電子顯微鏡那樣用來產(chǎn)生放大，而是用以
減小電子束的直徑，以便當(dāng)電子束打到試樣上時(shí)其直徑僅在200埃
或300埃左右.此外，還必須有一種以光柵方式使電子束在樣品
表面進(jìn)行掃描的方法，這可以用靜電偏轉(zhuǎn)板或磁線圈來達(dá)到.當(dāng)
電子束轟擊在試樣上時(shí)，
存在著取出幾種不同類型
的信號(hào)的可能性.某些入射電子將被背散射而沒有明顯的能量損
失，它們可以用PIN表面勢(shì)壘二極管來檢測.還會(huì)產(chǎn)生低能二次
電子，它們可以用具有幾百伏正偏壓的金屬絲網(wǎng)來收集，然后經(jīng)過
數(shù)千伏高壓電場的加速而打到閃爍晶體上.把閃爍晶體受轟擊時(shí)
發(fā)出的光禍合到一個(gè)光電倍增管上，光電倍增管的輸出將正比于
收集到的二次電子的數(shù)目.如果被研究的材料具有電子轟擊后會(huì)
發(fā)光(陰極射線致發(fā)光)的性質(zhì)，則也可將這樣發(fā)出的光通過一個(gè)
導(dǎo)光管或透鏡系統(tǒng)禍合到檢測器中去
后一篇文章：晶粒構(gòu)成的多晶體試樣檢測用電子顯微鏡的常識(shí) »
前一篇文章：« 從固定的接觸點(diǎn)上測量電流-測量光學(xué)儀器
tags:技術(shù),金相顯微鏡,上海精密儀器,
顯微鏡觀察金屬絲網(wǎng)結(jié)構(gòu)特點(diǎn)-金相分析儀器,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁地址：/gxnews/1807.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/