本文標(biāo)題："礦物的折射率可用顯微鏡測(cè)量-顆粒直徑測(cè)量"

礦物的折射率可用顯微鏡測(cè)量-顆粒直徑測(cè)量
礦物研究

    在兩面拋光薄片或超微薄片對(duì)礦物作下述光學(xué)測(cè)定的范圍并不是作為一
種建議而提出來(lái)的。我們采用其它補(bǔ)充技術(shù)的經(jīng)驗(yàn)表明，這只是一種較快速
和可靠的方法。
    在作兩面拋光薄片觀察時(shí)，我們根據(jù)下列光學(xué)性質(zhì)對(duì)礦物作初步鑒定:

①外貌，包括顏色、習(xí)性、多色性、解理、雙晶，以及其它形貌方面的參數(shù)

②與石英、長(zhǎng)石或其易鑒別的黑色礦物，如云母、角閃石、輝石和其它副礦
物進(jìn)行比較而估定的折射率和重折射率;

③我們偶爾也在錐步下對(duì)礦物的延性符號(hào)和光性符號(hào)作檢查。因我們實(shí)驗(yàn)室
還備有一臺(tái)干涉顯微鏡，可在該鏡上通過(guò)與石英的N。或粘結(jié)樹膠折射率的
比較來(lái)推定礦物的折射率，進(jìn)而對(duì)礦物作初步鑒定。如果經(jīng)過(guò)上述的快速研
究還不能對(duì)礦物作出鑒定，那就要在薄片上把這個(gè)礦物的位置用色筆作出標(biāo)
記，并進(jìn)行顯微照相，以便作下一步的電子探針?lè)治?。目前我們還不能對(duì)薄
片中的礦物作就地X射線衍射分析，只好轉(zhuǎn)向?qū)?jīng)過(guò)顯微鏡檢測(cè)的該礦物壓
碎顆粒進(jìn)行研究，從而可以避免從薄片中揭取細(xì)小礦物的困難。

    我們認(rèn)為，最好同時(shí)對(duì)兩面拋光薄片和礦物的松散自由顆粒進(jìn)行研究，
這樣可以相互取長(zhǎng)補(bǔ)短，以便從很小一點(diǎn)巖石樣品上獲得盡可能多的和準(zhǔn)確
可靠的科學(xué)數(shù)據(jù)。
 

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礦物的折射率可用顯微鏡測(cè)量-顆粒直徑測(cè)量,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

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