本文標(biāo)題："礦物學(xué)顯微結(jié)構(gòu)研究用圖像式偏光顯微鏡"
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礦物學(xué)顯微結(jié)構(gòu)研究用圖像式偏光顯微鏡
根據(jù)礦物的折光率（RI），通常易于鑒定化學(xué)成分比較固定的礦
物；另一方面，對屬于連續(xù)類質(zhì)同像礦物族中的一種礦物來說，可以
通過準(zhǔn)確地測定折光率RI，間接地得出它的成分。大多數(shù)礦物族，都
已做出了折光率隨同成分變化的表格，但是這種表格確實(shí)太多了，因
此，在礦物學(xué)研究中，精確地測定折光率成為一種非常有價(jià)值的手段。
在日常鑒定工作中，可以迅速粗略地測出折光率RI；如果有必要，可
以花更多的時(shí)間仔細(xì)地側(cè)出精確的折光率值。
自然，精度要隨目的而變化。由于使用了偏光顯微鏡。折光率的
測定總是同收集有關(guān)的光性數(shù)據(jù)同時(shí)進(jìn)行，順便收集了。其它數(shù)據(jù)，
例如2V和光性符號。
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