本文標(biāo)題："孔隙的類型及巖石孔隙率測(cè)定分析顯微鏡"
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孔隙的類型及巖石孔隙率測(cè)定分析顯微鏡
次生孔隙的識(shí)別方法很多，次生孔隙的類型也很多，
其中粒間孔隙很難區(qū)分和確認(rèn)是原生粒間孔隙還是次生粒間孔隙，
例如被方解石、白云石和其它礦物充填滿的孔隙，在成巖作用過程中，
膠結(jié)物全部被溶解了，這樣形成的次生粒間孔隙和原生粒間孔隙
在一般的光學(xué)顯微鏡下是很難區(qū)分的。用陰極發(fā)光顯微鏡來解釋這一
問題會(huì)取得很好的效果，在顆粒邊緣只要有一點(diǎn)點(diǎn)殘留的方解石等，
在陰極發(fā)光顯微鏡下都可以被發(fā)現(xiàn)，所以在顆粒邊緣如能看到有殘余
的膠結(jié)物就可以推斷是否原來粒間的膠結(jié)物被溶解了。
有時(shí)在孔隙中可以見到方解石，這些方解石在陰極發(fā)光
顯微鏡下成殘留狀態(tài)(品體較圓滑、零散、呈點(diǎn)狀分布)，這都表明了
次生孔隙的特征。
次生孔隙在陰極發(fā)光顯微鏡下所表現(xiàn)的特征基本有四方面:
孔隙中有膠結(jié)物，特別是碳酸鹽膠結(jié)物的溶解殘余;
膠結(jié)物和孔隙分布不均勻;
石英顆粒有被溶蝕現(xiàn)象;
石英次生加大分布不均勻。
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